一種基于偽失效壽命的LED可靠性快速評價方法

上傳人：郭偉玲、樊星、崔德勝、吳國慶、俞鑫

上傳時間： 2013-04-16

瀏覽次數： 47

作者	郭偉玲、樊星、崔德勝、吳國慶、俞鑫
單位	北京工業(yè)大學光電子技術省部共建教育部重點實驗室
分類號	TN312.8
發(fā)表刊物	《發(fā)光學報》
發(fā)布時間	2013年

　　摘要：提出一種快速評價LED可靠性的有效方法。通過測試LED樣品的偽失效壽命,結合Minitab軟件進行數據分析,確定全部樣品的偽失效壽命服從二參數的威布爾分布。通過計算威布爾分布尺度參數,比較不同樣品的尺度參數來評價產品的可靠性。該方法對LED的可靠性評價和壽命預測有一定的參考價值。

　　1引言隨著電子信息技術應用的日益廣泛,各種電子產品對現代社會的影響日益增大,產品結構的復雜以及使用條件的嚴苛使得產品發(fā)生故障及潛在失效的可能性越來越大,可靠性已經成為電子產品最重要的質量指標。傳統(tǒng)意義的可靠性評估主要是基于數理統(tǒng)計和壽命試驗形成的一套理論方

......

大中小 | 收藏本文

資料