LED芯片壽命試驗(yàn)過程全解析
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上傳人： 上傳時(shí)間： 2012-09-26 瀏覽次數(shù)： 265 |
LED具有體積小，耗電量低、長壽命環(huán)保等優(yōu)點(diǎn)，在實(shí)際生產(chǎn)研發(fā)過程中，需要通過壽命試驗(yàn)對LED芯片的可靠性水平進(jìn)行評價(jià)，并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平，以保證LED芯片質(zhì)量。
1、引言
2、壽命試驗(yàn)條件的確定
3、過程與注意事項(xiàng)
4、壽命試驗(yàn)臺(tái)的設(shè)計(jì)
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