繼2012年晶圓代工廠突破28奈米制程后，帶動半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈2013年朝向20奈米更高階的制程、整合式的封裝發(fā)展，為解決IC設(shè)計公司因制程改變所延伸出的壽命問題，宜特(iST)集團(tuán)今宣布，導(dǎo)入「高功率」IC壽命模擬測試設(shè)備- HTOL(High Temperature Operating Life Test，高溫工作壽命試驗)，將可協(xié)助IC設(shè)計公司以更簡易、低成本的方式，執(zhí)行先進(jìn)制程的IC可靠度驗證。

　　宜特觀察發(fā)現(xiàn)，隨著云端整合技術(shù)日趨成熟、行動通訊產(chǎn)品滲透率日增，半導(dǎo)體元件在行動式裝置的發(fā)展仍以輕薄短小為主軸下，半導(dǎo)體元件製程則不斷朝更高階的28、20奈米移動，并隨市場需求走向SiP、SOC、POP、3D、3D TSV 等高階先進(jìn)封裝技術(shù)。特別在臺灣封測雙雄-日月光、硅品不僅已從Prototype實驗階段，逐漸轉(zhuǎn)向量產(chǎn)態(tài)勢，晶圓大廠亦投入大量資本支出在新應(yīng)用產(chǎn)品上。

　　宜特科技工程總處資深副總經(jīng)理崔革文說明，將多個IC置放至同一封裝體時，其整體壽命將會受到不同元件間的熱傳導(dǎo)相互干擾而下降，也就是10℃理論(溫度上升10℃，壽命縮減一半)，而高階制程的IC，則是在相同面積下放入更多電晶體，如此所產(chǎn)生的熱，高達(dá)以往IC產(chǎn)品的數(shù)倍，因此，溫度提高對IC壽命的影響將不容小覷。

　　崔革文更進(jìn)一步指出，IC間因製程差異所產(chǎn)生的功率變異範(fàn)圍也隨之提升。如何在傳統(tǒng)的IC HTOL(高溫工作壽命實驗)中，有效、平穩(wěn)的控制每一個DUT(Device Under Test，被測元器件)的溫度，經(jīng)由穩(wěn)定的高溫加速模擬實驗，獲得實際應(yīng)用的壽命預(yù)估數(shù)值，是目前IC設(shè)計公司高度關(guān)注的議題。

　　宜特引進(jìn)的IC高溫工作壽命解決方案，其設(shè)備所提供的Power與 I/O訊號Channel供應(yīng)上更完整，并能以獨立溫控，取代傳統(tǒng)Air Cooling加溫方式，可協(xié)助IC設(shè)計公司降低IC試驗時產(chǎn)生的不確定性，縮短量產(chǎn)前產(chǎn)品驗證時間。若有相關(guān)需求，歡迎洽詢宜特業(yè)務(wù)TEL: 03-578-2266。

　　關(guān)于宜特iST集團(tuán)

　　始創(chuàng)于1994年，宜特科技從 IC 線路除錯及修改起步，逐年拓展新服務(wù)，包括故障分析、可靠度驗證、材料分析與品質(zhì)保證等，建構(gòu)完整驗證與分析工程平臺與全方位服務(wù)?？蛻舴秶依穗娮赢a(chǎn)業(yè)上游IC設(shè)計至中下游成品端。隨著綠色環(huán)保意識抬頭，宜特不僅專注核心服務(wù)，并關(guān)注國際趨勢拓展多元性服務(wù)，建置無鉛與無鹵可靠度驗證、化學(xué)定量分析與碳足跡溫室氣體盤查服務(wù)，順利取得多項國際知名且具公信力的機構(gòu) ─ 德國 TUV NORD 與英國 BSI 認(rèn)證。同時在國際大廠的外包趨勢下，宜特科技也扮演品牌公司委外製造產(chǎn)品的獨立品質(zhì)驗證第叁公證實驗室，取得 Dell、Cisco、Delphi、Continental Automotive、Lenovo 等品牌大廠認(rèn)證實驗室資格。